潮热试验是一种可靠性试验，紧张用于评估电子元器件在湿度和温度变革条件下的性能。在这个试验中，元器件会暴露在特定的湿度和温度条件下，以仿照真实环境中的潜在应力。
潮热试验有多种形式，个中一种是恒定潮热试验，它哀求被试样品在相对湿度为90%～100%的范围内，在一定韶光内使温度从25℃上升到65℃，并保持3h以上；然后再在相对湿度为80%～100%的范围内，用一定的韶光使温度从65℃低落到25℃，再进行一次这样的循环，之后在任意湿度的情形下将温度低落到-10℃，并保持3h以上，末了规复到温度为25℃，相对湿度即是或大于80%的状态。这一过程大约须要24h，而且常日一次耐湿试验，上述交变潮热的大循环要进行10次。
2. 声扫（SAT）技能简介
声扫（SAT）是一种高分辨率的显微成像仪器，它利用声波在材料中的传播特性来检测材料的内部毛病。声波会在材料界面、内部毛病或材料变革的地方发生反射，对材料不具有毁坏性。SAT可以在液体或固体材料中自由传输，能够聚焦，并沿直线传输。SAT的上风在于它能够在不须要毁坏样品的情形下供应深入的内部信息，这对付检测分层的空气、裂纹和虚焊等毛病非常有用。
超声波扫描显微镜（SAT）
3.塑封器件的可靠性评价
对付塑封器件的可靠性评价紧张方面是毛病暴露技能，而毛病在器件利用前很难通过常规的筛选来创造，一旦器件经由焊接或实际事情时就会显露出来，造成组件的故障。
潮气的入侵是与韶光干系的，韶光越长，外界潮气湿度越大，则塑封器件内潮气达到饱和的韶光越短。同时这种失落效还会受到温度、湿度共同浸染的影响，因此采纳温度、湿度综合应力，开展加速试验。
在电子元器件的筛选过程中，MSL+SAT是一种常用的方法，它结合了潮热试验和声扫技能的优点。通过MSL+SAT，可以有效地评估元器件在湿润和酷热条件下抗衰变的能力，以及内部构造的完全性。这种方法尤实在用于评估塑封器件的可靠性，由于塑封器件可能会受到潮气和温度变革的影响，而这些影响可能会导致内部构造的破坏或性能衰退。通过声扫技能，可以非毁坏性地检测器件内部是否存在分层或其他非常情形，从而提高筛选的准确性和效率。
对此，金鉴实验室针对不同的塑封器件，可以制订相应的试验方案，也可以采取履历值，即双85，500h进行高温潮热试验，并且供应潮热试验+声扫测试检测报告。但同时依据标准EIA/JESD22-A110-A，96h的130C,85%RH HAST相称于1000h双85RH潮热试验，500h的高温潮热试验可以用50h的HAST等效替代。
经由高温潮热或HAST试验后的塑封器件经由焊接工艺后取下，进行声学扫描检讨，剖析其引线框架与封装材料、芯片与封装材料的分层情形，做出此批器件是否通过高温潮热试验的判断。
综上所述，潮热试验+声扫高可靠用场的筛选（MSL+SAT）是一种有效的电子元器件筛选方法。它不仅可以评估元器件在恶劣环境条件下的性能，还可以深入检测元器件的内部构造，从而确保终极产品的可靠性和安全性。这种方法在电子行业等对产品质量哀求较高的领域中得到了广泛运用。
