顺络电子申请一种多PIN脚元器件共面度检测专利准确率较高可有效区分元器件合格品及不合格品

专利择要显示，本发明公开了一种多PIN脚元器件共面度检测方法，该方法包括以下步骤：步骤S10：获取元器件底部轮廓的3D点云图，通过3D点云图拟合出第一参考面；步骤S20：将元器件的焊盘区域进行均分，使均分的区域为打算点；步骤S30：以元器件的重心点将元器件焊盘区域分为两对称区域，打算两对称区域的特色点，两对称区域的特色点记为第一特色点以及第二特色点；该方法对付元器件的共面度检测准确率较高，可以有效区分元器件的合格品以及不合格品。

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