广和通申请测试方法、系统、电子设备和存储介质专利解决现有技能中ET对分娩测试并不友好测试时间久耗时效率不高的问题

专利择要显示，本申请涉及一种测试方法、系统、电子设备和存储介质，运用于打算机技能领域，个中，方法包括：在监测到开始进行目标网络的APT测试的情形下，获取测试工具发送的测试旗子暗记；相应所述测试旗子暗记，并实行所述目标网络的ET测试；在所述ET测试结束后，向测试工具发送测试完成旗子暗记，以使所述测试工具基于所述测试完成旗子暗记判断所述目标网络测试是否完成。
以办理现有技能中，ET对生产测试并不友好，测试韶光久，耗时，效率不高的问题。

本文源自金融界