长鑫存储申请熔丝电路运用寿命的测试方法及设备专利可以准确评估出熔丝电路的寿命

专利择要显示，本公开履行例供应了一种熔丝电路利用寿命的测试方法及设备，涉及半导体技能领域，包括：利用熔丝读取电路读取熔丝阵列中的各个熔丝单元的第一熔断状态；分别按照多个NBTI应力施加时长，对熔丝读取电路施加NBTI应力；在每个NBTI应力施加时长结束后，利用熔丝读取电路重新读取熔丝阵列中的各个熔丝单元的第二熔断状态；根据所述第一熔断状态、各个NBTI应力施加时长，以及在每个NBTI应力施加时长结束后，熔丝读取电路重新读取的第二熔断状态，确定熔丝电路的利用寿命。
本公开履行例基于半导体器件的NBTI效应，可以准确评估出熔丝电路的寿命。

本文源自金融界