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专利择要显示，本发明公开了一种光源自动测试系统，包括高下灯机器装置、用于丈量被测光源光学性能的光学丈量装置、上灯单元、下灯单元以及用来驱动被测光源至光学丈量装置处实现光学性能检测的环形传送装置；所述的光学丈量装置位于环形传送装置的传送路径上，所述的高下灯机器装置从上灯单元抓取待测的被测光源移送至环形传送装置，且从环形传送装置抓取已测的被测光源移送至下灯单元；所述的上灯单元包括多个用以安装被测光源的灯座；所述的环形传送装置与上灯单元相独立设置，所述的下灯单元也与环形传送装置相独立设置。通过所述的上灯单元可对被测光源进行提前老炼，传送过程可实现被测光源的自动预热稳定，测试结束可对被测光源进行合格剖断，全体测试过程由掌握单元掌握自动完成。与现有的光源自动测试系统比较，本发明供应的测试系统具有自动化程度高、测试精度高、操作简便、节约人工本钱和空间本钱，适用范围广等优点，适用于实验室光源的高精度快速丈量。
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