AEC系列振动测试旨在评估电气设备中利用的部件。它的目的是确定部件承受由运输或现场操作产生的运动引起的中等到严重振动的能力。这种类型的振动可能会滋扰事情特性。特殊是重复的应力会导致部件疲倦毁坏。这是一种用于部件鉴定的毁坏性试验。
振动、冲击测试的夹具设计及其哀求
振动、冲击试验中夹具的紧张功能是将振动、冲击台产生的能量通报给试件，一个好的夹具应至少知足下列哀求：
1） 能方便的将试件固定到台面上；
2）在全体试验频率范围内，夹具的频响特性要平坦，夹具的第一阶固有频率应高于最高试验频率，还应避免夹具与产品的共振耦合；
3）夹具与产品的连接面上的各个连接点的相应要只管即便同等，以确保试验时的勉励输入的均匀性；
4）夹具的刚度和质量比要足够大。
AEC系列振动测试标准及测试条件
接管条件：0失落效
测试方法：JEDEC JESD22-B103
标准
测试工具
测试数量
测试条件
AEC Q100
集成电路
15
20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g;测试前后的性能检讨在常温下
AEC Q101
离散半导体
仅针对密封件
20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g；
AEC Q102
离散光电半导体器件
3批次中各取10个
20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g；
AEC Q103-002
微机电系统(MEMS)压力传感器器件
3批次中各取39个
M1等级：20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50gM2等级：10Hz~2000Hz~10Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g备选方案：由任务文件制订
AEC Q103-003
微机电系统(MEMS)麦克风器件
3批次中各取12个
20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＜12min，每轴向4次；峰值加速度20g;测试前后的性能检讨在常温下
AEC Q104
多芯片模块(MCM)
15
20Hz~2000Hz~20Hz（对数扫频）＞4min，每轴向4次；峰值加速度50g;测试前后的性能检讨在常温下
AEC系列冲击测试标准及测试条件
接管条件：0失落效
测试方法：JEDEC JESD22-B110
标准
测试工具
测试数量
测试条件
AEC Q100
集成电路
15
仅Y1平面，5次冲击，脉冲持续韶光0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。
AEC Q101
离散半导体
仅针对密封件
1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要测试电气参数
AEC Q102
离散光电半导体器件
3批次中各取10个
1500g,0.5ms，5击，3次/方向。
在MS前和MS后的测试，或仅在CA前和MS后进行测试。
AEC Q103-002
微机电系统(MEMS)压力传感器器件
3批次中各取39个
M1级：
•测试条件：每轴双向5个脉冲，0.3ms持续韶光，6000g峰值加速度等级M2：
•测试前：下列每次测试#G3的恒定加速度（CA）
•测试条件：每轴双向10个脉冲，0.3ms持续韶光，6000g峰值加速度
替代测试条件：依照任务剖面（安装位置定义的机器条件）
室温下MS前后测试。
后测试：IV（PS11）和WBP（C2）进行5个装置的测试。
AEC Q103-003
微机电系统(MEMS)麦克风器件
3批次中各取12个
3个脉冲，0.5毫秒持续韶光，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室温下进行震撼前后测试。
AEC Q104
多芯片模块(MCM)
15
仅Y1平面，5次冲击，脉冲持续韶光0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的测试在室温下进行。
【来源：internet】
版权与免责声明：
①本网凡注明"来源：xxx（非本网）"的作品，均转载自其它媒体，转载目的在于通报更多信息，并不代表本网赞许其不雅观点和对其真实性卖力，且不承担此类作品侵权行为的直接任务及连带任务。
②如涉及作品内容、版权等问题，请在作品揭橥之日起两周内与本网联系，我们将在第一韶光删除
