华微电子取得可控硅测试电路专利可快而有效地测试可控硅的抗干扰能力

专利择要显示，本履行供应的可控硅测试电路，涉及测试电路技能领域。
上述可控硅测试电路通过所述脉冲发生装置向所述待测可控硅发送脉冲测试旗子暗记，仿照所述待测可控硅在不同滋扰场景下的事情状态，所述导通指示装置指示该测试电路是否导通，若所述导通指示装置指示该测试电路导通，即解释此时的电快速瞬态突发滋扰水平超过所述待测可控硅的抗滋扰水平，小幅度下调所述脉冲发生装置的电压，直至所述导通指示装置指示该测试电路不导通，即可确定所述待测可控硅的抗扰度水平。
该可控硅测试电路可以在非整机电路中单独对可控硅的抗滋扰能力进行测试，且相对付现有技能而言，可以快而有效地测试可控硅的抗滋扰能力，实验结果的准确性与可靠性更高。

本文源自金融界