生益电子申请悬金长度检测装配及检测方法专利能够不破坏PCB而检测悬金长度

专利择要显示，本发明公开了悬金长度检测装置及检测方法，悬金长度检测装置包括探测组件和光检测传感器，探测组件可活动地设置，且包括有第一抵接构造、第二抵接构造和光发射器；第一抵接构造和第二抵接构造沿X方向排列，且设置于探测组件于Y方向的一侧，Y方向垂直于X方向，第一抵接构造位于探测组件一端；光发射器位于第二抵接构造于Y方向的一侧，且用于沿Y方向朝第二抵接构造一侧射出初始光束；光检测传感器设于第二抵接构造背离光发射器的一侧，且用于吸收初始光束经悬金遮挡后剩余的待检光束，并能够获取所吸收的待检光束在X方向上的照射范围的长度。
本发明能够不毁坏PCB而检测悬金长度，进而提高检测效率并改进因检测带来的摧残浪费蹂躏问题。

本文源自金融界