中兴通讯取得散热测试专利提升芯片散热测试的精度和测试周期,散热器。

专利择要显示，本发明供应了一种散热测试方法及系统和发热装置，个中散热测试方法，运用于散热测试系统，该散热测试系统包括发热装置和散热装置，个中，该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该方法包括：根据该电源单元输出功率调度该发热单元的发热功率；丈量该发热单元的温度；在到达预设温度阈值的情形下，启动散热装置进行散热处理。
通过本发明，办理了干系技能中开拓过程中芯片散热测试精度低周期长的问题，提升芯片散热测试的精度和测试周期。

本文源自金融界